如何准确测量陶瓷电容的电容值？

“容差”这个词，对于陶瓷电容（也叫做MLCC，就是我们常说的多层陶瓷电容）来说，是指设备电容跟标称值之间的偏差。这个偏差主要是因为制造过程中的变化。我们在测试的时候，会有严格的条件，目的就是为了排除其他因素的干扰。

有些人以为这个“容差”是一个固定的范围，不管什么条件下，测量出来的值都应该在这个范围内。很多产品确实是这样，但陶瓷电容不是。特别是那些基于2类和3类电介质的陶瓷电容，它们的电容特性很不稳定。所以，如果你随便测一下，很可能得到一个超出标称值范围的值。但这不代表这个产品有问题，只是因为这个技术的特性就是这样。

想要准确测陶瓷电容的电容值，有三个因素很关键，那就是测试信号、温度和时间。

测试信号：比如，下图展示了直流偏置和交流测试信号振幅对观测的电容值产生的影响。这张图来自三星电容CL31A106KAHNNNE的特性表，你看，只是改变一下交流电的振幅，测出来的电容值就会浮动-15%到+10%。如果用直流偏置的话，影响就更大了。所以啊，那些以为所有偏差都在标称的+/-10%容差范围内的人，是不是觉得大吃一惊呢？

温度：下面这张图展示了几个不同温度特性的电容系列，它们的电容是怎么随着温度变化的。除了1类电介质的设备外，其他设备在工作温度变化很大的情况下，预期的最小变化幅度约为10%。不过这张图只展示了温度的影响，实际上其他因素还会进一步增加观测的电容值的变化幅度。所以啊，那些以为规定的“容差”是一个总体概念的人，是不是觉得这是个不受欢迎的意外现实呢？

时间：最后啊，陶瓷电容（不包括1类电介质）也会老化，也就是说它们的电容会随着时间的推移逐渐减少。这种减少是从最后一次加热到材料特定温度时开始计算的。这种加热一般发生在制造或组装阶段。老化速度取决于材料，而且会不断累积。每过十倍的时间，电容就会减少几个百分点。这篇帖子13有更详细的描述。时间因素可以增加或掩盖其他因素对所观测的电容值的影响（依据具体情况而定）。所以啊，“容差”并不是所有影响因素的总和。

综上所述：

“容差”只是影响陶瓷电容观测值的其中一个因素而已，并不是全部。

其他因素的影响可能远远超过指定的容差值。但这并不能算产品有问题或者不符合规格。

我们用的测试信号、设备温度和设备最后一次去老化后的时间都会影响陶瓷电容的观测电容。所有这些因素都必须符合厂商的测试条件，这样我们才能准确测量出电容是否符合厂商的规格。

现在市面上的很多万用表上的电容测量功能其实并不能准确确定产品是否符合厂商的规格。

如果你需要一个稳定的电容，那就别考虑除了1类电介质（C0G或NP0最常见）以外的陶瓷电容了。

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