贴片电容出现漏电失效案例分析

作为TDK的授权代理商，深圳智成电子以其丰富的经验和专业的知识备受客户的信赖。今天我将向大家介绍一个关于贴片电容的漏电失效案例分析。贴片电容是电子产品中常见的元器件之一，但在使用过程中有时会遇到漏电失效的情况。此次案例分析将为我们提供更深入的了解，探讨失效原因以及如何预防和解决这些问题。

让我们一起来看看这个案例分析，以期在遇到类似问题时能够更好地应对和解决。深圳智成电子将为您提供详细的分析和解决方案，确保您的电子产品能够达到预期的性能和可靠性。

一、案例背景

在老化实验测试阶段，客户端发现贴片电容出现漏电失效。尽管不了解其具体的不良比率，但该贴片电容采用的是回流焊接工艺。

二、分析方法概述

对于外观检查，无论是OK样品还是NG样品，它们的表面都没有任何明显异常。

利用X射线透视检查，发现OK和NG样品内部均未出现裂纹、孔洞等异常情况。

需要将OK样品和NG样品分别进行切片，并使用金相显微镜对贴片电容内部结构进行放大拍照观察。观察结果显示，NG样品电容内部存在镍瘤和热应力裂纹，而OK样品没有发现任何异常。

通过对样品剖面进行扫描电子显微镜/能谱分析，发现NG样品的电容内部电极层存在不连续现象，出现了明显的镍瘤。在这些镍瘤周围，有许多向外延伸的裂纹，而在裂纹的通道内发现了明显的碳化痕迹（从能谱分析结果来看，含碳量高达50%）。这些裂纹是由热应力造成的，并且直接导致了电容性能的异常。与之相反，OK样品的电容内部电极层是连续的，陶瓷介质层紧密无孔洞和镍瘤，因此电容性能良好。

三、分析与讨论

经过外观检查，我们发现OK样品和NG样品的表面均完好，没有发现任何裂纹、破损等异常情况。

在进行X-ray透视检查后，我们没有发现OK样品和NG样品内部存在裂纹、孔洞等异常情况。

我们将把OK样品和NG样品分别切片，然后在金相显微镜下放大拍照，观察多层陶瓷电容器（贴片电容）的内部结构。NG样品的电容器内部存在镍瘤和热应力裂纹，而OK样品没有发现任何异常。

经过SEM/EDS分析样品剖面后发现，NG样品的电容内部电极层不连续，存在明显的镍瘤。此外，镍瘤周围还有多个向外延伸的裂纹，而在裂缝通道内发现了明显的碳化痕迹（EDS结果表明C含量高达50%）。这些裂纹应该是由于热应力引起的。此外，这些裂纹的存在也直接导致了电容性能异常。相比之下，OK样品的电容内部电极层是连续的，陶瓷介质层致密，未发现孔洞或镍瘤，因此它的电容性能非常好。

四、结论

通过综合测试分析可以得知，导致产品测试异常的原因是因为电容本身存在质量问题，主要表现在内部存在镍瘤，而镍瘤的存在可能导致热应力裂纹的产生。

建议：建议针对每批贴片电容来料进行抽检，并进行切片分析，以观察其内部结构是否存在来料不良问题。

深圳智成电子一直致力于为客户提供高质量的电子元器件和解决方案。在本次贴片电容漏电失效案例分析中，我们深入研究了失效原因并提出了有效的解决方案。通过我们的努力，我们希望能帮助客户避免类似问题的发生，确保他们的电子产品在使用中保持良好的性能和可靠性。

如果您在贴片电容或其他电子元器件方面有任何疑问或需求，我们诚挚地邀请您与深圳智成电子团队取得联系。我们拥有专业的技术团队和丰富的行业经验，将竭诚为您提供定制化的解决方案和优质的服务。

感谢您选择深圳智成电子作为您的合作伙伴。我们期待着与您一起开展更多成功的项目，并为您带来更多的创新和技术进步。